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highLIGHT高分辨极紫外软X射线光谱仪

highLIGHT光谱仪在市场上用户友好的平场校正配置中具有较高的光谱分辨率。经像差校正的平场覆盖了1nm到120nm范围内的宽波段。这款光谱仪提供了极高的光谱分辨率、宽广的光谱覆盖和优良的信噪比的独特组合。高信号强度是通过仪器设计、高光栅效率和高探测器量子效率实现的。此外,该光谱仪还可以采用无入射狭缝的方式进一步提高信号强度。 它的模块化设计能够匹配不同的实验几何和构型。它的特点是一个集成的狭缝架和滤波器插入装置,以及一个电动光栅定位。


highLIGHT光谱仪在市场上用户友好的平场校正配置中具有较高的光谱分辨率。经像差校正的平场覆盖了1nm到120nm范围内的宽波段。这款光谱仪提供了极高的光谱分辨率、宽广的光谱覆盖和优良的信噪比的独特组合。高信号强度是通过仪器设计、高光栅效率和高探测器量子效率实现的。此外,该光谱仪还可以采用无入射狭缝的方式进一步提高信号强度。

特点

  • l  平场掠入射光谱仪

  • l  波长范围:极紫外XUV)光栅 5~90nm软X射线(SXR)光栅1~20nm

  • l  探测器的灵活选择:X射线CCD摄像机或 MCP / 低噪声CMOS摄像机系统

  • l  工作压力<10-6mbar可选配用于独立真空操作的无油泵系统

  • l  可根据用户要求定制



产品规格参数



SXR+光栅

SXR 光栅

XUV 光栅

波长nm

1-5

1-20

5-90

操作模式

狭缝

无缝

无缝

光源距离m

灵活

灵活

灵活

波长nm

1-5

1-10

5-20

5-30

25-60

30-90

平面场尺寸nm

60

90

90

90

85

110

色散nm/mm

0.06

0.07-0.15

0.11-0.21

0.23-0.38

0.33-0.52

0.38-0.68

分辨率nm

<0.001

<0.005

<0.008

<0.015

<0.021

<0.026

* 其他配置(光谱范围,狭缝操作等等)可根据要求提供




用highLIGHT SXR+在2.88nm(430eV,过渡1s2-1s2p)处对氮谱线进行发射光谱测量。半高全宽是CCD相机的1.74像素(13μm像素大小),分辨率为1890。受探测器限制的分辨力是3290。(数据由德国哥廷根激光实验室的K. Mann 博士提供)

image.png




高分辨率和高信号强度

  • 分辨率和信号强度之间的极佳平衡

  • 一流的光栅效率和高探测器量子效率,通过防杂散光优化信噪比

  • 用于精确光谱校准的绝对光栅位置监测

 

灵活性

  • 可用于专有的无缝隙模式:光源的直接成像,无需狭窄的入射孔径,收集的光比标准版本多20倍,从而使信噪比提高了相同的比率

 

特殊解决方案

  • 非磁性仪器

  • 特殊的几何形状外壳

  • 电磁脉冲保护

  • 特殊安装场合

  • 超真空配置

 

根据需求定制

  • 每台光谱仪都是经过定制的,以完全匹配所需的应用,例如:

  • 提供与实验箱接口

  • 可调整光源距离

  • 集成客户提供的探测器

  • 根据用户定义提供滤光片安装座



>>点此下载产品手册: 

                             

                                 spec sheet H+P highLIGHT.pdf


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