新型的TXS光谱仪可在HHG光束（高频光束）、X射线自由电子激光器和台式X射线激光器上进行准确的光子诊断。可以对光子能量在2keV至4keV之间的单发光束进行测量 。在具有高效背散射的von Hamos几何结构中，对X射线光谱进行了指纹识别，以进行在线光束特征表述。透射光束保持>90％的透射率不受干扰，以供在进一步的实验中使用。
通过简单地将反向散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。软X射线范围提供了对许多材料的化学状态的高灵敏度通道，例如，在2kV下对硫的研究为电池研究提供了重要的参考。
【关键词】 多功能单发诊断 可移动紧凑型结构设计 特殊解决方案 定制化
【应用举例】
硫的K边缘X射线吸收光谱（XAS）（date courtesy of Dr.W.Malzer,TU Berlin）
【多功能单发诊断】
2-4k eV的X射线可测范围
脉冲间测量
诊断模式： 具有高透射反向散射探头的无干扰架构
XES模式： 适用于各种固体样品的安装选项
高能量分辨率10-4，带宽为2％
【可移动的紧凑型结构设计】
占地面积小
易于在实验站之间转移
直观的操作
【特殊解决方案】
非磁性仪器
超高压配置
【定制化】
每个光谱仪都是定制的，以完全匹配所 需的应用。例如：
与实验装置连接
用户定义的样品和滤光片架
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